• LongWD 长工作距探头

    LongWD 系列长工作距探头适用于样品需要大空间范围的情况。。。该系列可用于测量透明样品的厚度和高度,,,,精密结构件和柔性材料的法向位移量。。。。该系列的采样频率最高可达4KHz,,,,可实现扫描式测量,,,,得到样品的表面轮廓。。。。可以配置1个测头实现单点测量,,也可以配置2个测头实现相对高度测量。。

    WideAG 大角度探头

    WideAG 大角度探头适用于样品的倾角较大的情况。。该系列可用于测量透明样品的厚度和高度,,,,精密结构件和柔性材料的法向位移量。。。。该系列的采样频率最高可选配4KHz,,,可实现扫描式测量,,,得到样品的表面轮廓。。。。可以配置1个测头实现单点测量,,也可以配置2个测头实现相对高度测量。。。

    SmallSR 小量程探头

    SmallSR 小量程探头适用于样品精度要求高、、、产品薄、、、、粗糙度测量。。。。该系列可用于测量透明样品的厚度和高度,,,精密结构件和柔性材料的法向位移量。。。该系列的采样频率最高可达4KHz,,,,可实现扫描式测量,,,,得到样品的表面轮廓。。。可以配置1个测头实现单点测量,,也可以配置2个测头实现相对高度测量

    GeneGR 通用探头

    GeneGR 是一款通用探头,,,,适用于大多数场景。。。该系列可用精密结构件和柔性材料的法向位移量。。。该系列的采样频率最高可达4KHz,,可实现扫描式测量,,,得到样品的表面轮廓。。可以配置1个测头实现单点测量,,,,也可以配置2个测头实现相对高度测量。。。

    PSC-EXCELSE 高采样型控制器

    作为PSC-EXCEL控制器系列中成功的产品,,第二代控制器经改进后更加适合如今的工业应用需求。。。新的高性能电子器件结合高速以太网接口,,,高强度白光LED和高灵敏度的探测器,,,,使控制器可实现30000次每秒的测量速度和高测量精度。。。新一代控制器配置了自动光源控制装置,,,,可实现非接触式距离、、形貌和厚度的测试,,,测量具有极高的精度和复现性,,,甚至在测试环境波动的情况下都相当稳定。。。。

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